--应力仪--
美国Hinds Instruments的双折射测量技术已经被行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。应力仪能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求。我们提供跨光谱（DUV， VIS和NIR）的应力仪， 并能够测量几乎所有的光学材料。
应用
质量控制计量
低水平双折射测量的有
平滑玻璃
科学光学元件
激光晶体
DVDs
光刻组件的质量验证，包括
光掩模
熔石英光学元件
氟化钙镜片毛坯和窗口
主要特点
在低水平双折射测量中具有高灵敏度
同时测量双折射幅度和角度
精确度可重复性
高速测量
光学系统中无移动部件
可变尺寸光学元件的自动映
光弹调制器技术
简单、便于用户使用的操作
原文标题:--应力仪--
郑重声明：文章仅代表原作者观点，不代表本站立场；如有侵权、违规，可直接反馈本站，我们将会作修改或删除处理。
相关阅读
猜你喜欢
-
一种可去除x光镜应力的激光微加工技术
2022-10-25 -
红日初升，头角峥嵘——记河北易县抽蓄电站项目部青年突击队
2022-08-02 -
水电五局新型专利获国家知识产权局授权
2022-03-09 -
中俄核能合作项目7号机组核岛厂房安全壳钢衬里施工突破±0m标高
2022-01-25 -
评估残余应力对太阳能电池的影响
2021-12-14 -
在晶体硅电池中集成应力和温度传感器
2021-11-09 -
M10 Industries Kubus压线机通过了Emmvee太阳应力测试
2021-06-18 -
山东一建喜获两项实用新型专利
2021-06-17
2022-10-25
新能源
