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周末读:未来的细胞

时间:2021-08-15 18:16:16 来源:

为了使太阳能电池内的能量损失最小,表面必须高度钝化。

异质结(HJT)电池技术将单晶硅(c-Si)太阳能电池的优势与非晶硅(a-Si)的良好吸收和优异的钝化特性结合在一起,这已经在a-Si薄膜技术中得到了广泛使用。材料。HJT设计不是新的。20年前,三洋(现为松下)首先将这项技术推入了批量生产,实现了约20%的电池效率。

最近,松下在实验室规模的电池上显示出24.7%的效率。随着基本技术专利的终止,异质结技术于2010年向公众开放。Meyer Burger现在正在提供这项吸引人的技术,作为光伏价值链中的高性能关键技术,并承诺在批量生产中平均固有电池效率为23-24%。

沉积在c-Si晶圆和掺杂层之间的本征氢化非晶硅(a-Si:H)薄层是从电池结构中获得最佳性能的关键。这些实现了降低的界面态密度,降低的表面复合损耗以及更低的发射极饱和电流。

HJT电池的生产是一个相对简单的过程,它在低温下进行,与许多其他高效设计(包括PERC,金属包裹和选择性发射极)相比,其生产步骤更少。这使HJT在经济上具有吸引力,因为它可以节省大量能源。

HJT电池的一项重要技术优势是a-Si:H的出色表面钝化,从而导致高开路电压和高电池效率。出色的TC = -0.25%/ K的温度系数可确保模块工作条件下的更高能量产量。与标准的c-Si技术相比,异质结电池产生的kWh / m2多35%,因此达到最低的平均电费(LCOE)。

如前所述,低温处理(<250°C)可在制造过程中节省能量,防止体积退化,并可以使用薄晶圆。整个光伏价值链的集成开发–金刚石线切割,异质结电池技术和SmartWire连接技术(SWCT)–确保了HJT模块的最佳性能。

薄晶圆

如今,厚度约为180微米(µm)的晶圆已被标准用于电池制造。使用更薄的晶圆可显着降低材料成本,因为可以从一块砖上切割出更多数量的晶圆。随着晶片厚度的减小,对块状材料质量的影响也减小了,例如,对于少数载流子寿命的要求降低了。在晶片生产中使用金刚石线锯可减少微裂纹,并且微裂纹的深度更浅。随着晶片厚度的减小和相应较高的表面与主体的比,与主体中的复合损失相比,表面复合损失占主导地位。因此,必须具有出色的表面钝化技术。Meyer Burger的HELiAPECVD系统有望实现出色的表面钝化,该系统可提高薄晶圆的单元VOC并平衡由于较低的光吸收而导致的ISC损失。

工艺流程/纹理

最佳的纹理和清洁工艺是成功生产高效HJT电池的基础。迈耶·伯格(Meyer Burger)的工艺知识为最佳钝化奠定了基础。HJT工艺流程中的初始步骤是湿化学工艺,用于去除锯片损伤(SDR),纹理化,清洁和氢气终止。为了获得高效的HJT电池,必须几乎完全清除表面下的损伤和微裂纹。测量表面复合速度(SRV)表示必须去除锯屑,而与整块质量无关。图4显示了去除锯齿对表面复合速度的影响。

可以通过纹理化工艺优化去除锯损伤。氢氟酸中的最后短暂浸渍会终止硅表面,直到在随后的PECVD工艺中进行最终钝化为止。经过湿化学处理后的表面对于c-Si / a-Si:H界面的质量至关重要,因此对于表面钝化至关重要。

PECVD:正面和背面均采用a-Si:H涂层

为了使太阳能电池内的能量损失最小,表面必须高度钝化。在150至250°C的温度范围内沉积的a-Si:H的低温钝化可产生出色的表面复合速度。这种a-Si:H能够钝化所有级别的n型和p型硅。掺杂的a-Si:H用于形成发射极和背面场(BSF)。另外,掺杂的a-Si:H由于其场效应特性而有助于钝化。

Meyer Burger开发了模块化高通量HELiAPECVD系统,专门用于基于晶片的硅HJT电池概念。HELiAPECVD系统的核心是获得专利的S-Cube,这是一种先进的平行板等离子体反应器,具有箱内盒式布置,可提供超纯且均匀的非晶硅层。13.56 MHz的RF源用于最大程度地减少层沉积过程中的等离子体损坏。因此,就少数载流子寿命和带隙而言,确保了非晶硅层的所需质量。决定a-Si:H层钝化质量的关键参数是少数载流子寿命。

PVD:TCO /金属涂层,用于背面接触

在模块化HELiAPVD系统中,在其中一个腔室中使用溅射工艺将透明导电氧化物(TCO)层施加到晶圆的正面和背面。除了收集光生电流并在电池上形成欧姆接触外,正面的TCO层还用作减反射层。特别是对于HJT电池的正面,需要相对于a-Si:H和TCO层的光学和电子特性进行调整。

氧化铟锡(ITO)是HJT电池的理想TCO材料,因为它非常透明且导电,同时提供了与掺杂的a-Si:H层的良好电接触。在同一HELiAPVD系统的第二个腔室中,将另一个TCO层以95%的双面性应用于电池的背面。双面电池也可用于单面太阳能模块中,其中白色背板将光反射回电池并增加常规模块的功率。无需在这些涂覆过程之间破坏真空或转动晶片即可实现这一点。配置用于HJT细胞处理的HELiAPVD系统可实现边缘隔离,同时避免额外的激光或化学步骤。旋转磁控管上的TCO和金属的圆柱形溅射靶材可实现超过85%的高靶材利用率,从而确保了具有成本效益的涂覆工艺。HELiAPVD和HELiAPECVD系统在容量和层特性方面完美匹配。

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